ООО "Совтест АТЕ" - первый и единственный производитель проб-карт (УКФ) полного цикла в России
УКФ (проб-карты англ. probe cards, устройства контактные фиксированные) для контроля на зондовых установках при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин
Проб-карта служит соединяющим звеном между выводами микросхемы и измерителем, позволяя проверять функционирование чипа, когда он ещё находится на пластине и до того, как его установят в корпус
ПОЛНЫЙ ЦИКЛ ПРОИЗВОДСТВА ВКЛЮЧАЕТ СЛЕДУЮЩИЕ ЭТАПЫ:
◾️разработка электрической схемы, топологии и конструкции, моделирование электрических параметров (целостности сигналов и питания, по необходимости);
◾️входной электрический контроль базовой печатной платы;
◾️ручная или автоматизированная сборка компонентов на базовую печатную плату проб-карты с последующим оптическим и внутрисхемным контролем;
◾️изготовление и присоединение контактного устройства на основе игольчатых контактов (probes);
◾️финальная сборка, отмывка, юстировка и планаризация проб-карты;
◾️выходной автоматизированный контроль геометрических параметров проб-карты в сборе на основе метрологически достоверных средств измерений.
ДОСТУПНЫЙ СПЕКТР ТЕХНОЛОГИЙ ПОЛНОГО ЦИКЛА:
◾️стандартная радиальная (cantilever) технология для нормальных климатических условий с числом выводов до 1024;
◾️высокотемпературная радиальная (cantilever) технология до +125 °С с числом выводов до 1024;
◾️параметрическая радиальная (cantilever) технология с числом выводов до 64, ток утечки до 0.1 рА/V.
ПОДДЕРЖИВАЕМЫЕ КОНСТРУКТИВНЫЕ ФОРМ-ФАКТОРЫ:
◾️для тестеров модельного ряда FT-17 производства ООО «Совтест ATE»;
◾️стандартная прямоугольная форма шириной 4.5 дюйма;
◾️для систем Teradyne (ultraFLEX, J750);
◾️для систем Advantest/Verigy 93000 (9.5 и 12 дюймов);
◾️произвольная конструкция проб-карты на заказ под любую зондовую станцию (в т.ч. полуавтоматические, аналитические станции и зондовые станции производства Республики Беларусь)
Информация взята отсюда
УКФ (проб-карты англ. probe cards, устройства контактные фиксированные) для контроля на зондовых установках при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин
Проб-карта служит соединяющим звеном между выводами микросхемы и измерителем, позволяя проверять функционирование чипа, когда он ещё находится на пластине и до того, как его установят в корпус
ПОЛНЫЙ ЦИКЛ ПРОИЗВОДСТВА ВКЛЮЧАЕТ СЛЕДУЮЩИЕ ЭТАПЫ:
◾️разработка электрической схемы, топологии и конструкции, моделирование электрических параметров (целостности сигналов и питания, по необходимости);
◾️входной электрический контроль базовой печатной платы;
◾️ручная или автоматизированная сборка компонентов на базовую печатную плату проб-карты с последующим оптическим и внутрисхемным контролем;
◾️изготовление и присоединение контактного устройства на основе игольчатых контактов (probes);
◾️финальная сборка, отмывка, юстировка и планаризация проб-карты;
◾️выходной автоматизированный контроль геометрических параметров проб-карты в сборе на основе метрологически достоверных средств измерений.
ДОСТУПНЫЙ СПЕКТР ТЕХНОЛОГИЙ ПОЛНОГО ЦИКЛА:
◾️стандартная радиальная (cantilever) технология для нормальных климатических условий с числом выводов до 1024;
◾️высокотемпературная радиальная (cantilever) технология до +125 °С с числом выводов до 1024;
◾️параметрическая радиальная (cantilever) технология с числом выводов до 64, ток утечки до 0.1 рА/V.
ПОДДЕРЖИВАЕМЫЕ КОНСТРУКТИВНЫЕ ФОРМ-ФАКТОРЫ:
◾️для тестеров модельного ряда FT-17 производства ООО «Совтест ATE»;
◾️стандартная прямоугольная форма шириной 4.5 дюйма;
◾️для систем Teradyne (ultraFLEX, J750);
◾️для систем Advantest/Verigy 93000 (9.5 и 12 дюймов);
◾️произвольная конструкция проб-карты на заказ под любую зондовую станцию (в т.ч. полуавтоматические, аналитические станции и зондовые станции производства Республики Беларусь)
Информация взята отсюда
👍75❤37🔥10
tgoop.com/lithography1mm/319
Create:
Last Update:
Last Update:
ООО "Совтест АТЕ" - первый и единственный производитель проб-карт (УКФ) полного цикла в России
УКФ (проб-карты англ. probe cards, устройства контактные фиксированные) для контроля на зондовых установках при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин
Проб-карта служит соединяющим звеном между выводами микросхемы и измерителем, позволяя проверять функционирование чипа, когда он ещё находится на пластине и до того, как его установят в корпус
ПОЛНЫЙ ЦИКЛ ПРОИЗВОДСТВА ВКЛЮЧАЕТ СЛЕДУЮЩИЕ ЭТАПЫ:
◾️разработка электрической схемы, топологии и конструкции, моделирование электрических параметров (целостности сигналов и питания, по необходимости);
◾️входной электрический контроль базовой печатной платы;
◾️ручная или автоматизированная сборка компонентов на базовую печатную плату проб-карты с последующим оптическим и внутрисхемным контролем;
◾️изготовление и присоединение контактного устройства на основе игольчатых контактов (probes);
◾️финальная сборка, отмывка, юстировка и планаризация проб-карты;
◾️выходной автоматизированный контроль геометрических параметров проб-карты в сборе на основе метрологически достоверных средств измерений.
ДОСТУПНЫЙ СПЕКТР ТЕХНОЛОГИЙ ПОЛНОГО ЦИКЛА:
◾️стандартная радиальная (cantilever) технология для нормальных климатических условий с числом выводов до 1024;
◾️высокотемпературная радиальная (cantilever) технология до +125 °С с числом выводов до 1024;
◾️параметрическая радиальная (cantilever) технология с числом выводов до 64, ток утечки до 0.1 рА/V.
ПОДДЕРЖИВАЕМЫЕ КОНСТРУКТИВНЫЕ ФОРМ-ФАКТОРЫ:
◾️для тестеров модельного ряда FT-17 производства ООО «Совтест ATE»;
◾️стандартная прямоугольная форма шириной 4.5 дюйма;
◾️для систем Teradyne (ultraFLEX, J750);
◾️для систем Advantest/Verigy 93000 (9.5 и 12 дюймов);
◾️произвольная конструкция проб-карты на заказ под любую зондовую станцию (в т.ч. полуавтоматические, аналитические станции и зондовые станции производства Республики Беларусь)
Информация взята отсюда
УКФ (проб-карты англ. probe cards, устройства контактные фиксированные) для контроля на зондовых установках при тестировании кристаллов полупроводниковых пластин
Проб-карта служит соединяющим звеном между выводами микросхемы и измерителем, позволяя проверять функционирование чипа, когда он ещё находится на пластине и до того, как его установят в корпус
ПОЛНЫЙ ЦИКЛ ПРОИЗВОДСТВА ВКЛЮЧАЕТ СЛЕДУЮЩИЕ ЭТАПЫ:
◾️разработка электрической схемы, топологии и конструкции, моделирование электрических параметров (целостности сигналов и питания, по необходимости);
◾️входной электрический контроль базовой печатной платы;
◾️ручная или автоматизированная сборка компонентов на базовую печатную плату проб-карты с последующим оптическим и внутрисхемным контролем;
◾️изготовление и присоединение контактного устройства на основе игольчатых контактов (probes);
◾️финальная сборка, отмывка, юстировка и планаризация проб-карты;
◾️выходной автоматизированный контроль геометрических параметров проб-карты в сборе на основе метрологически достоверных средств измерений.
ДОСТУПНЫЙ СПЕКТР ТЕХНОЛОГИЙ ПОЛНОГО ЦИКЛА:
◾️стандартная радиальная (cantilever) технология для нормальных климатических условий с числом выводов до 1024;
◾️высокотемпературная радиальная (cantilever) технология до +125 °С с числом выводов до 1024;
◾️параметрическая радиальная (cantilever) технология с числом выводов до 64, ток утечки до 0.1 рА/V.
ПОДДЕРЖИВАЕМЫЕ КОНСТРУКТИВНЫЕ ФОРМ-ФАКТОРЫ:
◾️для тестеров модельного ряда FT-17 производства ООО «Совтест ATE»;
◾️стандартная прямоугольная форма шириной 4.5 дюйма;
◾️для систем Teradyne (ultraFLEX, J750);
◾️для систем Advantest/Verigy 93000 (9.5 и 12 дюймов);
◾️произвольная конструкция проб-карты на заказ под любую зондовую станцию (в т.ч. полуавтоматические, аналитические станции и зондовые станции производства Республики Беларусь)
Информация взята отсюда
BY Литография в домашних условиях



Share with your friend now:
tgoop.com/lithography1mm/319